事業紹介

資料請求

環境(洗浄)・計測機器事業

業界別用途例







潤滑油、作動油、燃料油中の測定・分析 清浄度(微粒子汚染)測定
NAS1638, ISO4406
HIAC液中パーティクルカウンター
極微量硫黄分析、添加剤分析 SPECTRO分析装置
粘度・濃度・密度・粘弾性測定
マイクロ波分解・合成
アントンパール製品
金属分析 SPECTRO分析装置
重合反応管理 Orbisphere溶存酸素計
表面改質、吸着・脱離、個体液体相互作用、湿潤性、塗工性、停滞適合性、膜機能性評価 アントンパール製品
使用済みガス処理 小池酸素工業製
燃焼式排ガス処理装置
環境測定(気中パーティクル、大気・水・土壌中のVOC管理) ARTI気中パーティクルカウンター、VOC簡易測定器
プロセス中の温度管理 IRCON非接触赤外線放射温度計







注射剤の不溶性異物試験、容器の清浄度試験、水道水中の病原性微生物の検知 HIAC液中パーティクルカウンター
眼内レンズ、コンタクトレンズ(ハード、ソフト)の品質測定 Shack-Hartmann 波面センサー
医薬品パッケージの酸素濃度測定 Orbisphere溶存酸素計
医薬品原料水中の全有機体炭素(TOC)測定 ANATEL
全有機体炭素(TOC)測定器
異種錠剤混入防止検査 JFEテクノリサーチ
異種錠剤検知装置
粘度・濃度・密度・粘弾性測定、マイクロ波分解・合成、表面改質、吸着・脱離、個体液体相互作用、湿潤性、塗工性、停滞適合性、膜機能性評価 アントンパール製品
環境測定(気中パーティクル、大気・水・土壌中のVOC管理) ARTI気中パーティクルカウンター、VOC簡易測定器
プロセス中の温度管理 IRCON非接触赤外線放射温度計







表面粒子清浄度測定
(部品洗浄、半導体製造装置ウェットクリーニング後の残留粒子清浄度確認)
湿式 HIAC液中パーティクルカウンター
乾式 PENTAGON
表面粒子測定器
元素・定性分析 SPECTRO分析装置
DVD, Blu-ray用光ピックアップレンズ品質測定、光ディスク基板及びハードディスク等の平坦度測定 Shack-Hartmann 波面センサー
光通信用近赤外レーザーダイオード及び集光レンズ品質測定 Shack-Hartmann 波面センサー
半導体露光装置用紫外線レーザー及びテレセントリックレンズの品質測定、ウェーハ表面形状測定 Shack-Hartmann 波面センサー
薄膜膜厚・膜ムラ測定 JFEテクノリサーチ製膜厚計
純水管理 Orbisphere溶存酸素計
ANATEL
全有機体炭素(TOC)測定器
粘度・濃度・密度・粘弾性測定、マイクロ波分解・合成、表面改質、吸着・脱離、個体液体相互作用、湿潤性、塗工性、停滞適合性、膜機能性評価 アントンパール製品
使用済みガス処理 小池酸素工業製
燃焼式排ガス処理装置
環境測定(気中パーティクル、大気・水・土壌中のVOC管理) ARTI気中パーティクルカウンター、VOC簡易測定器
プロセス中の温度管理 IRCON非接触赤外線放射温度計

光学用合成樹脂中の不溶性異物測定(溶媒で溶解) 湿式 HIAC液中パーティクルカウンター
深紫外〜遠赤外波長(153nm〜10.6μm)レーザービームの波面解析、M2測定、ビームプロファイリング Shack-Hartmann 波面センサー
レンズ、フィルター、反射ミラー等光学系の透過波面、反射波面解析による品質測定 Shack-Hartmann 波面センサー
薄膜膜厚・膜ムラ測定 JFEテクノリサーチ製膜厚計
環境測定(気中パーティクル、大気・水・土壌中のVOC管理) ARTI気中パーティクルカウンター、VOC簡易測定器
プロセス中の温度管理 IRCON非接触赤外線放射温度計







土壌中のヒ素・重金属分析、リサイクル材料(金属・樹脂)の受け入れ検査 SPECTRO分析装置
環境測定(気中パーティクル、大気・水・土壌中のVOC管理) ARTI気中パーティクルカウンター、VOC簡易測定器

 

このページの先頭へ