Optics & Photonics International 2011 出展のお知らせ
2011.04.14
このたびの東北地方太平洋沖地震におきまして、被災された方々とそのご親族の皆様、そして被災された関連企業様に心からお見舞いを申し上げます。被災地と被災地にあります関連企業様の一日も早い復旧並びに復興を心よりお祈り申し上げます。
ＪＦＥ商事エレクトロニクス株式会社は2011年4月20日（水）〜22日（金）にパシフィコ横浜で開催される、光産業・技術の総合展「OPTICS & PHOTONICS International 2011」に出展いたします。
開催概要
日時：2011年4月20日（水）〜4月22日（金） 10:00〜17:00
会場：パシフィコ横浜 展示ホールD ブースNo. B-8
主催：株式会社オプトロニクス社
弊社ブースの見どころと出展製品
イタリアSpot-optics社製Shack-Hartmann方式波面センサー各種を用いた実演デモを実施いたします。
OPAL300は100nmピッチの移動精度のステージとダブルパス測定用のShack-Hartmann方式
波面センサーOPTINO-MINIを装備しており、焦点深度の浅い高倍率対物レンズの品質を高精度で測定することが可能です（光源波長193nm〜10.6μm）。又、解析ソフトウェアSensoftのループ解析機能を用いてレンズの調芯による品質改善が可能です。- 近赤外波長用波面センサー OPTINO-NIR
近赤外波長LDの品質検査及び近赤外波長用光学系の品質検査に最適です。展示会では1060nm波長のLDを使用して近赤外光学系の品質測定デモを行います。 - 小口径レンズ品質管理用波面センサー LENTINO+
光ピックアップ用小口径非球面レンズの品質測定デモを行います。
