ニュース｜ＪＦＥ商事エレクトロニクス株式会社

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「Semicon Japan 2011」に出展します。

2011.10.24

【会　　期】	2011年12月7日（水）〜12月9日（金）
【開催場所】	幕張メッセ国際展示場
【主　　催】	SEMIジャパン
【当社小間番号】	4B-505
【みどころと出展製品】
	半導体、FPD、PV製造工程に有益な各種パーティクル測定器や品質管理の為の測定器をご紹介いたします。（一部パネル展示のみを含む）　Pentagon Technologies　表面粒子測定器　CyberOptics Semiconductor　各種測定器（パーティクル、レベル、ギャップ、ティーチング、振動）　ARTI　ハンドヘルド式気中微粒子測定器　HIAC　液中微粒子測定器　IRCON　放射温度計　オー・エス・ピー　VOC測定器　JFEテクノリサーチ　膜厚分布測定装置　小池酸素工業　排ガス処理装置
皆様のご来場をお待ちしております。